تحلیل نتایج توپوگرافی آزمایش میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

پردازش تصاویر و تحلیل فازهای نتیجه آزمایش میکروسکوپ نیروی اتمی با توپوگرافی سطح

آناليز ميکروسکوپ نيروي اتمي يا AFM که عبارت است از (Atomic Force Microscope (AFM يکي از انواع ميکروسکوپ هاي خانواده ميکروسکوپ هاي روبشي مي‌باشد که توانايي تصويربرداری از سطح اجسام را فراهم می‌کند. میکروسکوپ نیروی اتمی آنالیزی قدرتمند در بررسی سطوح مواد نانو ساختار فراهم می‌کند. ميکروسکوپ هاي نيروي اتمي (AFM)، دسته اي از ميکروسکوپ‌هاي پروب روبشي فراهم می‌کند که به کمک آن می توان ویژگی ساختاری و فیزیکی مواد را بررسی نمود. در ميکروسکوپ‌هاي نيروي اتمي از نيروهاي ضعيف نظير نيروهاي واندروالس و مويينگي بين نوک پروب و سطح نمونه براي تشکيل تصوير توپوگرافي از سطح نمونه استفاده می‌شود. روش اندازه‌گیری این میکروسکوپ شامل اندازه گيري توپوگرافي سطح است که ارتفاع سطح از نيرو را نشان می‌دهد.